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新一代全波光纖(下)
作者:佚名    文章來源:不詳    點擊數:3643    更新時間:2007-2-13
  六.各種制作全波光纖的方法比較
  制作方法 VAD+SOOT(套管) OVD+SOOT MCVD+SOOT PCVD+套管
  專利限制 沒有 US6477305 沒有(除美國國內) 法國
  衰減 1 3 2 2
  水峰控制 1 2 3 3
  MFD變化控制 2 1 2 2
  色散 3 2 1 1

  1、2、3分別表示各種工藝制作的光纖參數控制的容易程度,1代表較容易,2代表一般,3代表較難。各種方法制作全波光纖的方法比較下來:

  1)VAD方法生產的無水峰光纖,在衰減和水峰上具有優勢,1385nm衰減水平最低可以達到0.27 dB/km,1550nm衰減達到0.187 dB/km左右。

  2)OVD方法生產的無水峰光纖,在MFD的控制上要比VAD和MCVD法制作的要好。

  3)MCVD方法生產的無水峰光纖在色散控制上要比OVD和VAD法生產的要好。

  4)PCVD方法和MCVD方法生產的無水峰光纖水平相當。

  下面簡單介紹一下各種工藝生產全波光纖的過程。

  5.1 VAD制作無水峰光纖

  VAD制作全波光纖的過程如下[6]:
1)VAD法制作芯棒(內包層D/芯層直徑<7.5)
2)芯棒在氯氣氣氛中脫水(1200℃)
3)芯棒在氦氣氣氛中燒結(1500℃)
4)延伸芯棒(氫氧焰為熱源)
5)等離子火焰蝕洗除去OH-污染層
6)在芯棒外面套低OH-含量的套管
7)光纖拉絲

  各工序簡單介紹如下

  1)用VAD工序制作芯棒。

  在旋轉的芯棒頂部用火焰水解法沉積芯層和內包層,制成疏松體。內包層直徑D/芯層直徑d的比值略小于7.5。由于VAD制芯工藝是成本較高的工藝,沉積量和(D/d)2成正比。D/d越小,對外套管的要求越高。因為D/d值小,一部分光能會在內包層和套管中進行傳輸,各種雜質包括OH-離子就會增加傳輸損耗。由于OH-離子在很容易在熱處理(尤其是拉絲過程中)從外包層運動到芯層,因此工藝對外套管的含OH-離子的濃度要求就相當嚴格。商業化生產的D/d比值一般在2.0~7.5之間。


  2)芯棒在氯氣氣氛中脫水

  沉積好的芯棒疏松體要放在1200℃含氯或含氟的氣氛中。脫水的原理是氯氣進入芯棒孔隙中取代C,其產生的Si-Cl鍵吸收波長在25微米,遠離光纖工作波段。脫水的速率取決于脫水溫度和氯氣的流量。脫水后OH-離子的含量將少于8X10-10(w%)。


  3)芯棒在氦氣氣氛中燒結

  芯棒在爐內繼續升溫到1500℃,通入氦氣進行燒結。氦氣是一種分子體積很小而傳熱系數很高的氣體,能夠將熱量帶到芯部,是疏松體依靠表面張力而生成透明的玻璃體。燒結效果取決于下送速度、燒結溫度、氦氣流量等因素。


  4)芯棒延伸

  VAD制作的芯棒一般都較粗且外徑不均勻,無法直接插入套管合成預制棒,需要經過一道延伸工序來使外徑變均勻變細。芯棒延伸可以采用成本較低的氫氧火焰作為熱源,但氫氧焰會造成芯棒表面OH-離子污染,需要后面進行等離子蝕洗或酸洗。另外一種辦法是采用等離子體作為熱源進行延伸,可以省去一個去OH-離子的過程。延伸工藝有橫延,由上往下延伸,由下往上延伸等多種方法。

  5)等離子蝕洗

  等離子蝕洗的原理是:等離子火焰沿著旋轉著的芯棒進行軸向移動,高達9000℃的火焰將芯棒表面的一層物質迅速升華揮發。一般的蝕洗深度是0.25±0.15mm,足以將表面的OH-離子去除干凈。

  6)低OH-含量的合成石英管作外包層

  由于采用了更大的外套管,整個光纖的成本急劇降低。對石英管的要求是高純、低損耗和高抗拉強度。石英管的OH-含量決定了芯棒制作時的D/d值的大小。在套管車床上將芯棒和套管裝配在一起,用環形氫氧焰沿軸線從上到下進行加熱,同時用真空泵抽去縫隙內的空氣,使套管燒結在芯棒上,形成一體的預制棒。

芯棒D/d值 外套管OH-含量
7.5 <200 ppm
5.2 <1.0 ppm
4.4 <0.5 ppm
表6 外套管水份含量和芯棒 D/d的關系

  7)光纖拉制

  光纖拉制工藝屬于傳統工藝,這里不在復述。

  5.2 OVD制作無水峰光纖

  OVD制作全波光纖的過程如下:
1)OVD法制作芯棒及抽芯
2)芯棒的脫水和燒結
3)延伸芯棒
4)在芯棒外沉積外包層
5)光纖拉絲

  各工序簡單介紹如下

  1)OVD法制作芯棒
  
  在旋轉的靶棒(Al2O3)外沉積一層碳,而后沉積芯層和內包層。靶棒的一端有一特制的抽芯管,沉積結束后,需要將靶棒從疏松體中抽出。

  2)芯棒脫水和燒結

  和VAD工藝不同,OVD的芯棒疏松體中心有抽去靶棒而留下的中心孔。研究表明,水峰主要由于中心孔閉合前殘留其內的水份造成的。雖然芯棒疏松體經過了脫水和燒結,但中心孔周圍的部分在脫水以后很容易吸收水分。當脫水后的芯棒疏松體遇到含氫氣氛(不僅限于H2O)時,中心孔那表面就會產生物理吸附水(OH2)和化學吸附水(Beta OH),從而導致光纖水峰的增加。

  嚴格控制中心孔部分的暴露于含氫環境是降低水峰的關鍵。辦法1是在懸掛著的芯棒疏松體底端插入一個玻璃塞,然后放入爐內進行脫水。馬弗管和中心孔先分別通He進行吹掃。爐內溫度控制在1000℃-1200℃,在爐內再通入氯氣進行脫水,氯氣和氦氣的比例大約為1:25。隨后將溫度逐漸上升為1500℃進行燒結,中心孔上端加10TORR的負壓,有利于孔在燒結中閉合,這種方法可以將芯棒的水份控制在1ppb以內。

  方法2是在脫水過程中先用He進行吹掃,然后用He作為載氣從裝D2O的鼓泡瓶中載帶一定量的D2O進入馬弗管,接著再通入He進行吹掃,最后通入氯氣和氦氣的混合氣體進行脫水。

  3)延伸芯棒

  燒結好的芯棒需要經過和VAD芯棒相同的延伸過程,以獲得直徑較小的適合套管或外沉積的芯棒。有的芯棒不在燒結過程中閉合中心孔,而是在延伸過程中閉合,芯棒頂部一直施以負壓。

  4)在芯棒外沉積外包層

  在延伸好的芯棒外沉積疏松體,而后進行脫水和燒結。此方法已經較為普通,不再復述。也有文獻報道采用(Rod-in SOOT tube)工藝進行套管成棒,但還未見詳細描述。

  5)光纖拉制這里也不再復述。

  5.3 MCVD制作無水峰光纖

  MCVD工藝制作光纖的工藝已經廣為人知,用MCVD方法制作全波光纖需要注意很多地方,在工藝、設備和原料方面進行了各種改進后,使生產出來的光纖水峰能進一步降低。

  1)提高反應溫度去除基管內壁雜質

  研究發現,不僅基管的外表面的雜質(包括OH離子)會對光纖損耗產生影響,基管內表面的雜質也很有影響。沉積內包層時,提高管壁的溫度,將管壁溫度上升到1700℃以上,有利于內表內的易揮發雜質的去除。

  2)采用高純的原料

  由于MCVD工藝中沒有脫水過程,沉積時直接玻璃化,所以有必要采用OH離子含量極低的原料。隨著原料提純工藝的不斷進步,目前的原料中雜質含量可達到幾個ppb以下,為生產無水峰光纖提供可能。

  3)增加b/a的比值

  為阻止基管中的水份在高溫下擴散到芯層,有必要采用較大的b/a的比值,即加厚內包層的厚度,來阻止水份的擴散。

  4)采用低水峰的基管

  低水峰基管的運用也是十分必要,Heareus已經向客戶提供低OH離子含量(<10ppb)的基管和套管,且即將來華投資建廠。

  5)采用無OH離子的熱源.

  在MCVD工藝中,原先采用的氫氧火焰會將水份帶到基管外表面,在套管后水份將留在芯棒界面上,拉絲過程中會擴散到芯部,造成光纖水峰的增加。傳統的表面處理方法有機械磨拋、化學腐蝕和等離子蝕洗。

  采用無OH離子的熱源如等離子火炬,用于沉積包層、芯層和塌縮芯棒等步驟,可避免OH離子對基管的污染。等離子火炬作為熱源是朗訊的專利,具有溫度高,溫度場集中穩定等特點,火焰中心的溫度高達9000℃,邊緣溫度也有幾千度。作為MCVD工藝熱源,必須控制好縮徑、均勻性,解決的方法有提高轉速,改變臥式車床為豎式車床。

  6)OD置換法

  另外,意大利CSELT實驗室E.MODONE等人曾經報道一種方法[13],在基管內和/或玻璃化的沉積層內通入D2,可以將內表層的OH離子置換為OD離子,反應式如下

≡Si-OH + D2 → ≡Si-OD + HD
≡Si-OH + HD → ≡Si-OD + H2

  OD的鍵能為466 kJ/mol,而OH的鍵能為460 Kj/mol,所以激發置換反應必須在300℃以上的溫度。置換后,水峰發生位移,使1385 nm處的水峰下降。

  5.4 PCVD制作無水峰光纖

  2003年光通信會議報告的文獻[11]中介紹了在PCVD工藝中通入氟利昂可以降低羥基含量。理由是在等離子狀態下,水分子分解成具有高度活性的游離態,與氟利昂作用產生氟化氫和二氧化碳排走,從而降低羥基含量的作用。

  P.Matthijsse在2004年2月OFC大會上作的報告[12]進一步說明,PCVD工藝可以生產出低水峰光纖,但需要在如下幾個問題上進行控制:1)原料,包括氯氣、氧氣和基管。2)機械部件,如氣體密封裝置、旋轉接頭。3)工序中表面沾污,如管子安裝、塌縮、芯棒儲存、套管等。另外,報告也指出,塌縮工藝中引用O2/C2F2等離子蝕洗。不同的是PCVD在管子中心通入C2F2刻蝕掉中心線上的污染物。塌縮以后還要用HF濕化學侵蝕法去除外表面的污染物。目前報道PCVD可以把水峰控制在0.30 dB/km。

  5.5 光纖氘處理過程

  光纖在拉制過程中,會產生一些無序的Si-Oo自由基團[4],極易和Ho生成Si-OH,造成1385nm處的水峰增加。因此各種全波光纖拉完絲后都要經過氘處理,才能夠經受得住長時間的含氫環境的侵蝕。氘處理的原理是讓氘和Si-Oo自由基團形成Si-OD,吸收峰在1850nm,這樣在光纖的整個壽命期間,氫就無法取代氘的位置。氘和Si-Oo自由基團的反應如下:2≡Si-O? + D2 → 2≡Si-OD 。按照ITU-T G.652C/D的要求,光纖在經過氫老化后光纖的1383±3nm處的衰減系數要不低于1310nm處的衰減,才能稱作全波光纖

  六.結束語

  除了G.652光纖消除了1383 nm 處的水峰,打開了E波段。其他光纖如G.655也朝著低水峰的方向發展,如住友公司的水峰抑制PureMetro光纖,康寧的MetroCore光纖等。所以現在全波光纖的概念也不局限于G652光纖了。

  另外,全波光纖和CWDM的結合預示著FTTP(光纖到家庭)的未來。在未來的幾年之內,我們要結合自身工藝特點,生產出滿足市場需求的全波光纖

  致謝:技術質量部經理康曉健、孫建軍高級工程師等提出了寶貴的意見和建議,在此表示感謝。


參考文獻
[1] ITU-T G.652, Characteristics of a single-mode optical fiber and cable, Prepublished Recommendation, March 2003
[2] Gordon Thomas, Towards the clarity limit in optical fibre, Nature, Vol 404(6775) 16 March 2000, pp 262-264
[3] 唐仁杰,光纖技術的最新發展及光纖標準動態,全國第二屆光纖光纜用材料技術研討會, pp2-pp20
(轉P17頁)
(接P31頁)
[4] 薛建軍、查健江,迎接下一代光纖網絡的挑戰,全國第二屆光纖光纜用材料技術研討會,pp108-pp114
[5] Kazumasa Ohsono, High Performance Optical Fibers for Next Generation transmission Systems, Hitachi Cable Review No. 22 (August 2003)
[6] 陳炳炎,通信光纖的進展和規范:從G.652到G.655,光纖與電纜及其應用技術,No.1 2002,pp1-pp12
[7] 徐乃英,現代單模光纖的改進及其制造技術,光纖與電纜及其應用技術,No.3 2002,pp1-pp8
[8] George E. Berkey, Low water peak optical waveguide and method of manufacturing same, U.S. patent 6477305, Nov. 5, 2002
[9] Fred Paul Partus, Optical fiber with low OH impurity and communication system using the optical fiber, U.S. patent 5692087, Nov. 25, 1997
[10] Kai Huei Chang, Method of making a fiber having low loss at 1385 nm by cladding a Vad preform with a D/d<7.5, U.S. patent 6131415, Oct. 17, 2000

[11] 謝康,長飛公司全貝(FullBand)光纖及其特性,第三屆中國光通信技術與市場研討會, pp167-pp171
[12] P.Matthijsse, Towards the low limits of 1383 nm loss in PCVD enabled single mode fiber production, presented at OFC 2004, Los Angeles, Paper TuB5 Feb. 2004
[13] E.Modone, OH reduction in preforms by isotope exchange, Eletronics Letters, Vol. 17 No. 21, Oct 15, 1981

江蘇法爾勝光子公司  摘自:《網絡通信世界》  
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