1. 引言
薄膜材料和薄膜器件日益廣泛的應(yīng)用及其可靠性指標體系的日益健全,要求學(xué)術(shù)界對其結(jié)構(gòu)和性能的特殊性給出科學(xué)解釋,相應(yīng)的參照物除通常的塊體材料外,也包括無約束的自由態(tài)薄膜。事實上,附著于基底材料表面的薄膜與無支撐的自由態(tài)薄膜其結(jié)構(gòu)和性能存在很大差異,研究中除應(yīng)注重低維材料相對巨大的表面效應(yīng)外,多數(shù)情況下尚須考慮基底的約束效應(yīng)和界面效應(yīng)。本文結(jié)合課題組近幾年的研究工作,著重介紹薄膜表面形貌、晶體取向、內(nèi)應(yīng)力、屈服強度以及薄膜與基底結(jié)合強度等方面的研究進展。
薄膜材料由于厚度的超薄性,表面形貌的表征和影響不容忽視。研究發(fā)現(xiàn),薄膜的表面形貌與真空沉積的熱力學(xué)條件和動力學(xué)過程密切相關(guān),可在一定程度上反映薄膜的形成機制和主控參量的變化.
由于制備方式的特殊性,多晶薄膜均存在不同程度的晶體擇優(yōu)取向。有趣的是,對于確定的基底材料,薄膜的這種擇優(yōu)取向主要決定于沉積方式,工藝參數(shù)一般只能改變?nèi)∠虻膹娙酰桓鼮橛腥さ氖牵浞滞嘶鸷螅撾x基底的自由態(tài)薄膜按能量最小的晶體密排面確定取向,但有支撐的附著膜卻可能存在各異的晶體取向。分析認為,基底的約束作用及由此產(chǎn)生的薄膜應(yīng)變是導(dǎo)致“奇異性”取向的主要原因。
薄膜的內(nèi)應(yīng)力或殘余應(yīng)力嚴重影響薄膜器件的長期服役性和性能穩(wěn)定性。研究表明,內(nèi)應(yīng)力不僅制約和影響著薄膜的力學(xué)性能,而且與薄膜的電導(dǎo)率等物理性能存在一定的對應(yīng)關(guān)系。特別地,不同沉積方式和沉積參數(shù)可能產(chǎn)生不同的薄膜應(yīng)力,但幾乎所有的薄膜其內(nèi)應(yīng)力與晶體取向均有良好的對應(yīng)關(guān)系。經(jīng)退火等高溫處理后,這種關(guān)系更為明顯。
金屬薄膜更多地強調(diào)持續(xù)應(yīng)力或溫度作用下的塑變和蠕變抗力,但需要特別指出的是,傳統(tǒng)意義上屬材料常數(shù)的屈服強度在薄膜尺度下已不復(fù)存在,由此提出的科學(xué)命題涉及低維材料本征屬性和微尺度材料或器件表觀屬性的區(qū)別與聯(lián)系。研究證實,金屬薄膜的室溫和高溫屈服強度均與膜厚有關(guān);相對于自由態(tài)薄膜,有基底支撐的附著膜具有更高的屈服強度;附著膜上存在鈍化層或置于多層膜中的單體膜,由于上下兩側(cè)的力學(xué)約束,其屈服強度將達到最大。由此說明簡單地套用傳統(tǒng)概念可能在薄膜材料設(shè)計和失效分析等方面帶來偏差甚至謬誤。
相對于金屬膜,人們對類金剛石等一類主要用于摩擦學(xué)領(lǐng)域的薄膜更多地關(guān)注膜/基界面結(jié)合強度。盡管劃痕法等傳統(tǒng)方法由于設(shè)備和操作簡單,至今仍廣泛應(yīng)用,但很少有人對其物理意義的不確定性和工藝對應(yīng)的不一致性加以論述。據(jù)此提出基于原位多重納米劃擦試驗評價方法,研究表明該方法有可能使確定的界面結(jié)合強度具有更明確的物理內(nèi)涵。 |